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硬件测试技术案例精选高级研修班

 

《硬件测试技术案例精选高级研修班》培训目标

在产品设计阶段,可以对产品设计原型进行虚拟测试,验证设计方案,排除可能的设计缺陷;在生产阶段,可以对产品进行全面的测试,排除产品的潜在故障,从而降低使用过程中的故障率,提高产品的质量和可靠性。另一方面,可测试性技术可以缩短新产品的研制、试验和评价的周期,降低产品的研制费用,不仅如此,还可以提高产品的可用性、可维护性等指标,减少用于这些方面的费用,从而降低了产品的全寿命周期费用。

《硬件测试技术案例精选高级研修班》课程大纲

硬件测试的目的就是站在用户的角度,对产品的功能、性能、可靠性、兼容性、稳定性等进行严格的检查,体验用户感受的同时提高产品的质量及市场竞争力。硬件测试是产品从研发走向生产的必经阶段,也是决定产品质量、降低产品的全寿命周期费用的重要环节,如何将测试工作开展的更全面、更仔细、更专业完善也是众多企业不断追求的目标。

1.掌握电子产品硬件设计技术
2.能够合理选择硬件测试项目和试验方法
3.免费得到以下资料:
1)电影:PCB测试、分析及维修技术 2)电影:电子组件电测试技术
3)电影:PCB裸板测试技术 4)电影:通孔焊点工艺质量标准
5)电影:表贴焊点质量标准 6)软件测试技术讲义
7)部分元器件测试方法 8)部分产品内部测试报告

课程提纲:以实务为重点,解析大量实例,培养学员分析、解决实际问题的能力。讲课内容届时根据实际情况会有所调整。
1、硬件测试概述
硬件测试目的、测试需求的来源;测试的基本原则;硬件测试种类、硬件测试流程技术;
2、硬件测试准备技术(工程案例讲解)
FMEA(故障模式影响分析)、测试计划;硬件可测试性设计、内涵;产品可测试性设计的必要性;PCB可测试性的条件、一般要求、策略、影响PCB测试策略的参数;在线测试对印制电路板设计的要求、板的尺寸和节点数;DFT规则的使用、遵守或理解;测试点的可访问性、设置准则、尺寸要求;测试焊盘的尺寸、定位孔要求、器件特殊引脚的处理;功能测试方面的可测性设计要求;PCB可测试性的关键技术及发展;Ad-hoc测试、扫描技术;内建自测技术(BIST)、几种可测试性技术比较、测试的安全措施;
3、PCB及其组件工艺测试技术(近60项工程案例讲解)
PCB测试、再流焊实时温度曲线测试技术;PCBA测试方法;手工视觉、X-Ray测试;自动光学检查(AOI)、飞针测试机、ICT测试机、电路板故障检测仪;
4、PCB电气测试技术(近60项工程案例讲解)
低频电路、高速电路测试技术;SI分析;信号完整性的仿真、示波器的使用、数字示波器探头选用;传输线特性阻抗、信号质量测试;集总式电路特性测试技术、信号质量测试方法、硬件信号质量测试案例;驱动器电源噪声串扰导致数据线毛刺、过冲和毛刺使FLASH芯片工作异常、损坏率高;信号时序测试:信号时序测试条件、测试覆盖范围、测试参数、测试过程、;时序测试案例;信号时序紧张,造成误码严重容差、容错定量测试(操作容限测试)、附加噪声、调节宽总线上的定时;通过同轴电缆延时调节时钟、通过脉冲发生器调节时钟;用于时钟相位调节的简单电路、用锁相环调节时钟;通过改变电压调节时钟;供电、温度、数据吞吐量、硬件测试自动化技术;射频电路测试技术;
5、硬件安全测试技术(工程案例讲解)
防电击、电气间隙和爬电距离测试;介电强度、供电电源的断开试验;产品防机械危险检验;产品耐机械冲击、撞击试验;设备温度限制和防止火的蔓延、耐热试验、元器件安规测试;
6、整机EMC测试技术(近30项工程案例讲解)
电磁兼容试验的原则;EMC测试设备;EMI试验技术;电源端传导骚扰测量、负载端和控制端传导骚扰电压测试;电信端口骚扰的测量、断续骚扰 click试验技术;骚扰功率测量、辐射骚扰测量技术、测试项目和设备工程案例;EMS试验技术、抗扰度测试的内容;连续波传导、辐射试验;传导瞬时(丛讯)试验法;雷击浪涌的抗扰度、电压暂降和短时中断、静电放电抗骚扰试验;
7、硬件可靠性测试技术(近30项工程案例讲解)
硬件可靠性试验的分类;可靠性筛选试验;元器件筛选技术;PCB组件测试老化及筛选、环境应力筛选试验;加速寿命试验总论;加速寿命试验设计、实施过程、数据处理;加速退化试验技术;高加速寿命试验HALT、应力筛选HASS;整机产品的加速寿命试验;可靠性鉴定、型式、验收、保证试验;
8、硬件测试管理技术(工程案例讲解)
产品测试组织:测试问题的解决、确认、定位、反馈方式和流程、跟踪和解决流程;测试效果评估:测试度量指标、评审、经验总结的形式、遗留问题处理、市场规模应用跟踪、产品故障率统计;测试文件管理:测试用例、报告、规范制定;
需要哪些规范、规范的制定准则;测试人员的等级认证;
9、硬件测试工程案例(工程案例讲解)
功能测试、手机硬件测试;测试用例;计算机硬件测试、网络系统硬件测试技术、状态监测;

培训师介绍

周教授

英国Wayne kerr电子仪器公司技术顾问、Emerson公司产品评审专家、美国Gerson Lehrman集团专家、电子行业资深教授、大学博士;早年于西门子公司设计数控系统7年,后一直从事电子设备可靠性设计、电磁兼容设计、电子设备结构设计、热设计、防腐蚀设计、防振设计、电子设备制造工艺设计、静电防护体系建设、电子产品认证等方面的研究,从业30余年经验;出版专业著作8部,包括《电子设备结构与工艺》、《电子设备防干扰原理与技术》、《现代传感器技术》、《数控机床实用技术》、《现代电子设备设计制造手册》、《电磁兼容基础及工程应用》、《家用电器实用技术》等,部分著作多次印刷发行;待出版的专业著作有《印制电路板设计制造技术》并应一些单位的要求,编写了企业内部规范等等;多次去国外进行产品设计评审并主持完成我国省部级科研课题多项,在中国工程院院刊等核心期刊发表学术论文40多篇,多篇被EI收录。

《硬件测试技术案例精选高级研修班》培训对象

从事电子产品设计、制造、试验和管理的技术工程师及相关负责人;从事PCB设计、EMC、PI、SI等技术工程师及相关负责人;航天及军工、科研院所相关负责人员等等;

《硬件测试技术案例精选高级研修班》所属分类
《硬件测试技术案例精选高级研修班》关键词
硬件测试技术、生产管理、
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